PV Evolution Labs（ PVEL）光伏產(chǎn)品合格計(jì)劃( PQP） 2020 根據(jù)版本正式發(fā)布TestPV 了解信息，新的PQP 序列增加了LeTID 本項(xiàng)目更新了背板和機(jī)械載荷方法。

  PVEL 認(rèn)為調(diào)整 后的 序列直接解決了背板的耐久性，LeTID 取代了 PID ，專門(mén)針對(duì) PERC 組件和新的機(jī)械載荷更直觀地表達(dá)出來(lái) 微裂紋的敏感性。

  此外，熱循環(huán)的持續(xù)時(shí)間減少了25 從800個(gè)循環(huán)減少到600個(gè)循環(huán) ，可減少所需組件樣品的總數(shù)，并實(shí)施更有效的表示過(guò)程。

  雙面組件 ，新 PQP *少在兩種 背面性能在不同的反射條件下增加。

  因此，PQP 它比以往任何時(shí)候都更有效、更全面地響應(yīng)市場(chǎng)需求。

  圖表顯示PVEL新的光伏組件 PQP。

  1. 背板的耐久性

  背板的目的是在合理的時(shí)間范圍內(nèi) ** 戶外觀察到的泛黃、粉化、開(kāi)裂失效模式將多年的現(xiàn)場(chǎng)變成了加速過(guò)程。

  測(cè)試將紫外線照射到組件背面，足以模仿電站故障。整個(gè)組件不是單獨(dú)的背板樣品，因此它可以為買(mǎi)家提供更具指導(dǎo)性的結(jié)果。

  2. LeTID取代了PID

  LeTID*新的投資者和資產(chǎn)所有者必須避免PERC等高效組件衰減形式。LeTID5%的戶外電站幾乎有一些比例PV電站的全部利潤(rùn)。雖然光伏組件確實(shí)會(huì)隨著時(shí)間的推移而消失LeTID但恢復(fù)率取決于環(huán)境條件。

  上圖顯示了差異PV組件 BOM的 LeTID衰減率。到目前為止，PVEL觀察比例高達(dá) 6%。一些研究機(jī)構(gòu)報(bào)告說(shuō)，一些研究機(jī)構(gòu) PERC組件 LeTID發(fā)生率為 10％。

  PVEL 的LeTID滿足正在開(kāi)發(fā)的要求IEC技術(shù)規(guī)范草案。低電流應(yīng)用于整個(gè)過(guò)程PV確保誘發(fā)組件LeTID，非硼氧光衰LID 。盡管高溫會(huì)增加降解率，但它們也可能會(huì)引入其他掩蓋LeTID 敏感故障機(jī)制。

  3. PVEL新應(yīng)力– 減少HF循環(huán)

  PQP 始終包含微裂紋敏感性。PQP 通過(guò) 動(dòng)態(tài)機(jī)械載荷（DML )序列將機(jī)械應(yīng)力與環(huán)境應(yīng)力(動(dòng)態(tài)載荷、溫度變化和水分)結(jié)合起來(lái)，對(duì)組件施加應(yīng)力，揭示焊點(diǎn)疲勞和電池腐蝕的敏感性。

  雖然此前DML**次引進(jìn)是業(yè)內(nèi)*嚴(yán)格的，但隨著時(shí)間的推移，PVWL逐漸意識(shí)到它可以通過(guò)在開(kāi)始時(shí)增加靜態(tài)機(jī)械載荷來(lái)改善。新的靜態(tài)機(jī)械載荷步驟模擬了導(dǎo)致電池和焊帶破裂的現(xiàn)場(chǎng)代表載荷。

  PVEL 認(rèn)為靜態(tài)負(fù)載容易受到影響PV 在組件中產(chǎn)生微裂紋，然后動(dòng)態(tài)機(jī)械負(fù)載將進(jìn)一步施加微裂紋。TC和HF 循環(huán)會(huì)降低這些裂紋的功率輸出，就像環(huán)境應(yīng)力會(huì)導(dǎo)致微裂紋減少室外發(fā)電一樣 性能一樣。

  PVEL 通過(guò) 歷史數(shù)據(jù)分析發(fā)現(xiàn)，載荷的實(shí)施 后會(huì)增加 HF 試驗(yàn)，從**輪開(kāi)始HF 從試驗(yàn)中可以發(fā)現(xiàn)故障組件HF 10 到HF 30沒(méi)有明顯區(qū)別。

  因此，PVEL 在新序列中，減少了兩輪 HF 循環(huán)。

  PVEL 的新序列 及其研究成果正確 了解組件性能和行業(yè) 調(diào)整序列具有重要的參考價(jià)值。

  ??傳說(shuō)中的戶外太陽(yáng)能路來(lái)了！

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