PV Evolution Labs（ PVEL）光伏產(chǎn)品合格計(jì)劃( PQP） 2020 版正式發(fā)布，根據(jù)TestPV 了解信息，新的PQP 序列增加了LeTID 項(xiàng)目更新了背板和機(jī)械載荷方法。

  PVEL 認(rèn)為調(diào)整 后的 序列直接解決了背板的耐久性，LeTID 取代了 PID ，專門針對 PERC 組件，新的機(jī)械載荷更直觀地表達(dá)了 微裂紋的敏感性。

  此外，熱循環(huán)的持續(xù)時間減少了25 ％，從800個循環(huán)減少到600個 ，可以減少所需組件樣品的總數(shù)，并實(shí)施更有效的表示過程。

  對于雙面組件 ，新 PQP *少在兩種 不同的反射條件下，增加了背面性能。

  因此，PQP 比以往任何時候都更高效、更全面地響應(yīng)市場需求。

  圖表顯示PVEL新的光伏組件 PQP。

  1. 背板的耐久性

  背板的目的是在合理的時間范圍內(nèi) ** 戶外觀察到的泛黃、粉化、開裂失效模式，將多年的現(xiàn)場變成了加速過程。

  試驗(yàn)將紫外線照射到組件背面，持續(xù)時間足以模仿電站故障。整個組件而不是單獨(dú)背板試樣，因而可以為購買者提供更具指導(dǎo)意義的結(jié)果。

  2. LeTID取代了PID

  LeTID*新的投資者和資產(chǎn)所有者必須避免PERC等高效組件衰減形式。LeTID到了戶外電站5％幾乎有一些比率PV電站的全部利潤。雖然光伏組件確實(shí)會隨著時間的推移而從LeTID但恢復(fù)率取決于環(huán)境條件。

  上圖顯示了差異PV組件 BOM的 LeTID衰減率。到目前為止，PVEL觀察比例高達(dá) 6％。一些研究機(jī)構(gòu)報(bào)告說，一些 PERC組件 LeTID發(fā)生率為 10％。

  PVEL 的LeTID符合正在開發(fā)的要求IEC技術(shù)規(guī)范草案。低電流應(yīng)用于整個過程PV確保誘發(fā)的組件LeTID，而非硼氧光衰LID 。盡管使用較高的溫度會增加降解率，但它們也可能引入其他掩蓋LeTID 敏感故障機(jī)制。

  3. PVEL新應(yīng)力– 減少HF循環(huán)

  PQP 始終包含微裂紋敏感性。PQP 通過 動態(tài)機(jī)械載荷（DML )序列將機(jī)械應(yīng)力與環(huán)境應(yīng)力(動態(tài)載荷、溫度變化和水分)結(jié)合起來，對組件施加應(yīng)力，揭示焊點(diǎn)疲勞和電池腐蝕的敏感性。

  雖然此前DML**次引進(jìn)是業(yè)內(nèi)*嚴(yán)格的，但隨著時間的推移，PVWL逐漸意識到它可以通過在開始時增加靜態(tài)機(jī)械載荷來改善。新的靜態(tài)機(jī)械載荷步驟模擬了導(dǎo)致電池和焊帶破裂的現(xiàn)場代表載荷。

  PVEL 認(rèn)為靜態(tài)負(fù)載容易受到影響PV 組件中產(chǎn)生微裂紋，然后動態(tài)機(jī)械負(fù)載將進(jìn)一步施加微裂紋。TC和HF 循環(huán)會降低這些裂紋的功率輸出，就像環(huán)境應(yīng)力會導(dǎo)致微裂紋降低室外發(fā)電 性能一樣。

  PVEL 通過 歷史數(shù)據(jù)分析發(fā)現(xiàn)，實(shí)施載荷 后會增加 HF 試驗(yàn)，從**輪開始HF 試驗(yàn)就可以發(fā)現(xiàn)故障組件，從HF 10 到HF 30沒有明顯區(qū)別。

  因此，PVEL 在新的序列中， 減少了兩輪 HF 循環(huán)。

  PVEL 的新序列 及其研究成果對 行業(yè)了解組件性能和 調(diào)整序列具有重要的參考價值。

  ??傳說中的戶外太陽能路面來了！

  免責(zé)聲明:本微信官方賬號原創(chuàng)或轉(zhuǎn)載文章僅代表作者自己的觀點(diǎn)，微信官方賬號平臺對文章中的觀點(diǎn)不持態(tài)度。如果內(nèi)容不真實(shí)或侵權(quán)，請留言聯(lián)系本網(wǎng)站。